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NS系列接觸式表面形貌臺階儀主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。單拱龍門式設計，結構穩定性好，而且降低了周圍環境中聲音和震動噪音對測量信號的影響，提高了測量精度。

CEM3000系列臺式掃描電子顯微鏡儀器采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發射電流大、穩定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內達到穩定的工作狀態并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測效率，節省了時間成本，特別適用于需要快速獲取結果的應用場景，如工業生產中的質量控制、快速篩選樣品等。

CEM3000自主化SEM掃描電鏡采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發射電流大、穩定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內達到穩定的工作狀態并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測效率，節省了時間成本，特別適用于需要快速獲取結果的應用場景.

VT6000系列納米級共聚焦成像顯微鏡以轉盤共聚焦光學系統為基礎，結合高穩定性結構設計和3D重建算法，共同組成測量系統，保證儀器的高測量精度。主要用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。

SuperViewW系列高精度光學輪廓白光干涉儀以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

不同于立式電鏡，中圖SEM掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。